| Architecture of built-in self-test and recovery memory chips VA Andrienko, M Diaa, VG Ryabtsev, TY Utkina East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2013), 1-12, 2013 | 15 | 2013 |
| Peculiarities of metalized surfaces modification of silicon elements of microelectromechanical systems with low-power electronic flow M Bondarenko, I Bondarenko, V Antonyuk, D Telezhynskyi, V Andriienko Materials Science. Non-Equilibrium Phase Transformations. 3 (2), 53-55, 2017 | 11 | 2017 |
| Робототехнічні системи в технічній освіті ВО Андрієнко, МО Бондаренко Тези доповідей ІV Міжнародної науково-практичної конференції «Інформаційні …, 2018 | 8 | 2018 |
| Development of a simulation model of an information-measuring system of electrical characteristics of the functional coatings of electronic devices V Tytarenko, D Tychkov, S Bilokin, M Bondarenko, V Andriienko Mathematical modeling 4 (2), 68-71, 2020 | 4 | 2020 |
| Метод и средства повышения надежности запоминающих устройств путем замещения модулей памяти ВА Андриенко, ВГ Рябцев, ТЮ Уткина Радіоелектронні і комп’ютерні системи, 192–195-192–195, 2007 | 4 | 2007 |
| Архитектура встроенного многоверсионного самотестирования микросхем памяти ВА Андриенко, ВГ Рябцев, ТЮ Уткина Радіоелектронні і комп’ютерні системи, 53–57-53–57, 2012 | 3 | 2012 |
| Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств ММК Аль, ВА Андриенко, ВГ Рябцев Радіоелектронні і комп’ютерні системи, 134–137-134–137, 2006 | 3 | 2006 |
| Влияние внешней среды на работоспособность запоминающих устройств в условиях критического применения А Андриенко, Владимир SCIENTIFIC-TECHNICAL CONFERENCE INNOVATIONS IN ENGINEERING, 94-95, 2015 | 2 | 2015 |
| Минимизация влияния капиллярных сил при исследовании поверхностей изделий наноэлектроники в контактном режиме атомно-силового микроскопа СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ЮЮ Бондаренко, ... Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии, 164-168, 2014 | 2 | 2014 |
| Исследование микротвердости тонких пленок методом наноиндентирования с помощью атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ВС Антонюк Качество, стандартизация, контроль: теория и практика, 20, 2013 | 2 | 2013 |
| Архитектура средств встроенного самотестирования микросхем памяти ТЮ Уткина, ВА Андриенко, ВГ Рябцев Проблемы разработки перспективных микро-и наноэлектронных систем (МЭС), 386-389, 2010 | 2 | 2010 |
| Архитектура средств встроенного самотестирования микросхем памяти УТЮ Андриенко В.О., Рябцев В.Г. IV Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки …, 2010 | 2* | 2010 |
| Архитектура средств встроенного самотестирования микросхем памяти ТЮ Уткина, ВА Андриенко, ВГ Рябцев Проблемы разработки перспективных микро-и наноэлектронных систем (МЭС), 386-389, 2010 | 2 | 2010 |
| Этапы верификации конфигурируемых на кристалле цифровых систем ММК Аль, ВА Андриенко, ВГ Рябцев Теория и методика обучения математике, физике, информатике 6 (3), 179-182, 2006 | 2 | 2006 |
| Системи моделювання складних логіко-динамічних систем А Тимченко, В Андрієнко, А Данилюк Матеріали VIII Міжнародної конференції «Контроль і управління в складних …, 0 | 2 | |
| Особливості навчання основ робототехніки студентів комп’ютерних і технічних спеціальностей в університеті ВО Андрієнко Тези доповідей V Міжнародної науково-практичної конференції «Інформаційні …, 2020 | 1 | 2020 |
| Підвищення терміну експлуатації зондів атомно-силового мікроскопу ЮЮ Бондаренко, МА Бондаренко, СА Билокинь, ВА Андриенко КОМПЛЕКСНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ И СИСТЕМ, 97-99, 2017 | 1 | 2017 |
| Інформаційно-освітнє середовище технічного університету та інструментальні засоби і технології реалізації ВМ Саух, ЛП Оксамитна, ВО Андрієнко Вісник Черкаського державного технологічного університету, 2016 | 1 | 2016 |
| Інформаційно-освітнє середовище технічного університету та інструментальні засоби і технології реалізації ВМ Саух, ЛП Оксамитна, ВО Андрієнко Вісник Черкаського державного технологічного університету, 2016 | 1 | 2016 |
| Регламентирование проведения многоверсионного диагностирования запоминающих устройств с учетом полупериодов деградации ВА Андриенко, ВГ Рябцев, ТЮ Уткина Радіоелектронні і комп’ютерні системи, 135–140-135–140, 2008 | 1 | 2008 |
Antonyuk Viktor S. (Антонюк В.С., Ант...National Technical University of Ukraine «Igor Sikorsky Kyiv Polytechnic Institute»Підтверджена електронна адреса в kpi.ua
