Follow
Решетняк Максим Вячеславович (Maks Reshetnyak, Maxim Reshetnyak, Reshetniak M.V., М.В. Решетняк)
Решетняк Максим Вячеславович (Maks Reshetnyak, Maxim Reshetnyak, Reshetniak M.V., М.В. Решетняк)
НТУ "ХПИ", физико-технический факультет, кафедра физики металлов и полупроводников
Verified email at kpi.kharkov.ua
Title
Cited by
Cited by
Year
Low-temperature plastic strain of ultrafine-grain aluminum
YZ Estrin, NV Isaev, TV Grigorova, VV Pustovalov, VS Fomenko, ...
Low Temperature Physics 34 (8), 665-671, 2008
282008
Структура и твердость Ti-N-и Ti-Si-N-покрытий, осажденных из фильтрованной вакуумно-дуговой плазмы
ВВ Васильев, АА Лучанинов, ЕН Решетняк, ВЕ Стрельницкий, ...
Вопросы атомной науки и техники, 2009
182009
Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-TiB2 при …
МВ Решетняк, ОВ Соболь
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2008
132008
Structure and phase formation features of Ti-Zr-Ni quasicrystalline films under heating
SV Malykhin, VV Kondratenko, IА Kopylets, SV Surovitskiy, АА Baturin, ...
Journal of nano-and electronic physics, 03009-1-03009-4, 2019
92019
Structure and hardness of Ti-N and Ti-Si-N coatings deposited from the filtered vacuum-arc plasma
VV Vasil'ev, AA Luchaninov, EN Reshetnyak, VE Strel'nitskij, ...
Вопросы атомной науки и техники, 173-180, 2009
92009
Структурный анализ в физическом материаловедении
ЛИ Гладких, СВ Малыхин, АТ Пугачев, МВ Решетняк
Изд-во «Підручник НТУ “ХПІ”», Харьков, 2014
82014
Рентгенографический анализ периодических пленочных композиций W/Si
ЕН Решетняк, СВ Малыхин, ЮП Першин, АТ Пугачев
Вопросы атомной науки и техники, 2003
72003
Roentgen fluorescent analysis of multicomponent systems compositions
MV Reshetnyak, IF Michaylov
Functional materials 7 (2), 311-314, 2000
62000
Extended analysis of the structure and substructure characteristics of W2B5–TiB2 quasibinary nanocrystalline condensed and bulk materials using New_Profile software for X-ray …
MV Reshetnyak, OV Sobol
Inzh. Poverkhn 6 (3-4), 180-188, 2008
52008
Низкотемпературная пластическая деформация ультрамелкозернистого алюминия
ЮЗ Эстрин, НВ Исаев, ТВ Григорова, ВВ Пустовалов, ВС Фоменко, ...
Физика низких температур, 2008
52008
Низкотемпературная пластическая деформация ультрамелкозернистого алюминия
ЮЗ Эстрин, НВ Исаев, ТВ Григорова, ВВ Пустовалов, ВС Фоменко, ...
Физика низких температур, 2008
52008
On application of X-ray aproximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples
SV Malykhin, IE Garkusha, VA Makhlay, SV Surovitsky, MV Reshetnyak, ...
Functional materials, 2017
42017
Rapid diagnostics of urinary iodine using a portable EDXRF spectrometer
IF Mikhailov, AA Baturin, AI Mikhailov, SS Borisova, MV Reshetnyak, ...
Journal of X-Ray Science and Technology 25 (3), 515-521, 2017
42017
Методические указания к лабораторным работам по курсу" Актуальные вопросы физического материаловедения"
ЛИ Гладких, ИФ Михайлов, СС Борисова, МВ Решетняк, ОВ Соболь, ...
Харьков: НТУ “ХПИ, 2006
42006
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
SV Bazdyreva, NV Fedchuk, SV Malykhin, AT Pugachov, MV Reshetnyak, ...
Functional materials, 2013
32013
ФНТ 34, 842 (2008)[Low Temp. Phys. 34, 665
ЮЗ Эстрин, НВ Исаев, ТВ Григорова, ВВ Пустовалов, ВС Фоменко, ...
32008
Synthesis and Stability of Ti-Zr-Ni Quasicrystals; Sintez i stabil'notst'Ti-Zr-Ni-kvazikristallov
VM Azhazha, AM Bovda, SD Lavrinenko, LV Onishchenko, SV Malykhin, ...
Voprosy Atomnoj Nauki i Tekhniki, 2007
32007
Синтез и стабильность Ti-Zr-Ni-квазикристаллов
ВМ Ажажа, АМ Бовда, СД Лавриненко, ЛВ Онищенко, СВ Малыхин, ...
Вопросы атомной науки и техники, 2007
32007
Changes of structure characteristics in Ti 41, 5 Zr 41, 5 Ni 17 and Ti 41, 5 Hf 41, 5 Ni 17 rapidly quenched ribbons under radiation influence
VM Azhazha, SD Lavrinenko, YF Lonin, NN Pilipenko, BV Sereda, ...
Voprosy Atomnoj Nauki i Tekhniki. Fizika Radiatsionnykh Povrezhdenij i …, 2011
22011
Определение следов примесей путем полнопрофильного анализа рентгенофлуоресцентных спектров
ИФ Михайлов, МВ Решетняк
Труды VII международного симпозиума «Чистые металлы»(МСЧМ-7).-Харьков, 66-68, 2001
22001
The system can't perform the operation now. Try again later.
Articles 1–20