Підписатись
Светлана Билоконь
Светлана Билоконь
ЧДТУ, кафедра физики
Підтверджена електронна адреса в chdtu.edu.ua
Назва
Посилання
Посилання
Рік
Особенности измерения микротвердости диэлектрических поверхностей кремниевым зондом атомно-силового микроскопа
ВС Антонюк, СА Билоконь, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ...
Наноинженерия, С. 13-16, 2014
52014
Повышение точности и срока эксплуатации зондов для атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, ИА Рева, ОВ Свиридова
5-та Міжнародна науково-технічна конференція "Сенсорна електроніка та …, 2012
52012
Формирование упорядоченных наноструктур на пьезоэлектрической керамике системы ЦТС термическим осаждением в вакууме
МА Бондаренко, ВА Ващенко, ЮЮ Бондаренко, ИВ Яценко, МП Рудь, ...
Десятая юбилейная международная промышленная конференция "Эффективность …, 2010
52010
Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно-силового мікроскопу діелектричних поверхонь
МО Бондаренко, СО Білокінь, ВС Антонюк, ЮЮ Бондаренко
Журнал нано-та електронної фізики, 02018 (5)-02018 (5), 2014
42014
Влияние сил адгезии между исследуемой поверхностью и зондом для атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, МА Бондаренко, ВС Антонюк
Наноинженерия, С. 41-45, 2012
42012
Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом
СА Шелестовская, МА Бондаренко, АВ Котляр, ПВ Петлеваный, ...
IX Международная конференция "Методологические аспекты сканирующей зондовой …, 2010
42010
Study of Forming Thin Diamond Similar Nanostructures Thermal Vacuum-Depositing
MA Bondarenko, GV Kanashevich, HV Vertsanova, AV Kotlyar, NI Bojko, ...
Вісник ЧДТУ, 114-116, 2009
4*2009
Комплексне дослідження нанометричних елементів за допомогою атомно-силової мікроскопії
СО Білокінь, МО Бондаренко
ХІІ конференція студентів, аспірантів та молодих вчених "Шевченківська …, 2014
3*2014
Методи та засоби мікроскопії
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ПП Петльований, ...
К.: НТУУ "КПІ", 2013
32013
Mechanism of Origin and Neutralization of Residual Triboelectricity at Scanning of Dielectric Surfaces by a Silicon Probe of the Atomic-force Microscope.
MM Bondarenko, SA Bilokon, VS Antonyuk, II Bondarenko
Journal of Nano-& Electronic Physics 6 (2), 2014
22014
Минимизация влияния капиллярных сил при исследовании поверхностей изделий наноэлектроники в контактном режиме атомно-силового микроскопа
СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ЮЮ Бондаренко, ...
IX Международная конференция "Методологические аспекты сканирующей зондовой …, 2014
22014
Исследование микротвердости тонких пленок методом наноиндентирования с помощью атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ВС Антонюк
Качество, стандартизация, контроль: теория и практика, 20, 2013
22013
Повышение химической стойкости зондов атомно-силовых микроскопов к влиянию биологически активных сред
СА Билоконь, МА Бондаренко
Х Міжнародна науково-технічна конференція "Фізичні процеси та поля технічних …, 2011
22011
Исследование влияния состояния поверхности кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии на точность и качество получаемых топограмм
МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, СА Шелестовская
Электроника и связь, 14-17, 2011
22011
Мікроскопія в нанотехнологіях
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ОВ Верцанова, ЮЮ Бондаренко, СО Білокінь, ...
К.; НТУУ "КПІ", 2014
12014
Підвищення точності діагностування рельєфу та механічних характеристик нанорозмірних структур у приладобудуванні
СО Білокінь
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2014
12014
Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 295-302, 2014
12014
Визначення фізико-механічних характеристик поверхонь виробів наноелектроніки методом склерометрії
СО Білокінь
Вісник Національного технічного університету України Київський політехнічний …, 2013
12013
ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ КРЕМНИЕВЫМ ЗОНДОМ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА
МА Бондаренко, СА Билоконь, ЮЮ Бондаренко, ВС Антонюк, ...
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии, 286-290, 2018
2018
Исследование электрических свойств и восстановление поврежденных участков элементов памяти
СА Билоконь
Упрочняющие технологии и покрытия, 44-47, 2016
2016
У даний момент система не може виконати операцію. Спробуйте пізніше.
Статті 1–20