| Особенности измерения микротвердости диэлектрических поверхностей кремниевым зондом атомно-силового микроскопа ВС Антонюк, СА Билоконь, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ... Наноинженерия, С. 13-16, 2014 | 5 | 2014 |
| Формирование упорядоченных наноструктур на пьезоэлектрической керамике системы ЦТС термическим осаждением в вакууме МА Бондаренко, ВА Ващенко, ЮЮ Бондаренко, ИВ Яценко, МП Рудь, ... Десятая юбилейная международная промышленная конференция "Эффективность …, 2010 | 5 | 2010 |
| Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно-силового мікроскопу діелектричних поверхонь МО Бондаренко, СО Білокінь, ВС Антонюк, ЮЮ Бондаренко Журнал нано-та електронної фізики, 02018 (5)-02018 (5), 2014 | 4 | 2014 |
| Повышение точности и срока эксплуатации зондов для атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, ИА Рева, ОВ Свиридова 5-та Міжнародна науково-технічна конференція "Сенсорна електроніка та …, 2012 | 4 | 2012 |
| Влияние сил адгезии между исследуемой поверхностью и зондом для атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, МА Бондаренко, ВС Антонюк Наноинженерия, С. 41-45, 2012 | 4 | 2012 |
| Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом СА Шелестовская, МА Бондаренко, АВ Котляр, ПВ Петлеваный, ... IX Международная конференция "Методологические аспекты сканирующей зондовой …, 2010 | 4 | 2010 |
| Study of Forming Thin Diamond Similar Nanostructures Thermal Vacuum-Depositing MA Bondarenko, GV Kanashevich, HV Vertsanova, AV Kotlyar, NI Bojko, ... Вісник ЧДТУ, 114-116, 2009 | 4* | 2009 |
| Комплексне дослідження нанометричних елементів за допомогою атомно-силової мікроскопії СО Білокінь, МО Бондаренко ХІІ конференція студентів, аспірантів та молодих вчених "Шевченківська …, 2014 | 3* | 2014 |
| Методи та засоби мікроскопії ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ПП Петльований, ... К.: НТУУ "КПІ", 2013 | 3 | 2013 |
| Mechanism of Origin and Neutralization of Residual Triboelectricity at Scanning of Dielectric Surfaces by a Silicon Probe of the Atomic-force Microscope. MM Bondarenko, SA Bilokon, VS Antonyuk, II Bondarenko Journal of Nano-& Electronic Physics 6 (2), 2014 | 2 | 2014 |
| Минимизация влияния капиллярных сил при исследовании поверхностей изделий наноэлектроники в контактном режиме атомно-силового микроскопа СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ЮЮ Бондаренко, ... IX Международная конференция "Методологические аспекты сканирующей зондовой …, 2014 | 2 | 2014 |
| Исследование микротвердости тонких пленок методом наноиндентирования с помощью атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ВС Антонюк Качество, стандартизация, контроль: теория и практика, 20, 2013 | 2 | 2013 |
| Повышение химической стойкости зондов атомно-силовых микроскопов к влиянию биологически активных сред СА Билоконь, МА Бондаренко Х Міжнародна науково-технічна конференція "Фізичні процеси та поля технічних …, 2011 | 2 | 2011 |
| Исследование влияния состояния поверхности кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии на точность и качество получаемых топограмм МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, СА Шелестовская Электроника и связь, 14-17, 2011 | 2 | 2011 |
| Мікроскопія в нанотехнологіях ВС Антонюк, ГС Тимчик, ОВ Верцанова, ЮЮ Бондаренко, СО Білокінь, ... К.; НТУУ "КПІ", 2014 | 1 | 2014 |
| Підвищення точності діагностування рельєфу та механічних характеристик нанорозмірних структур у приладобудуванні СО Білокінь Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2014 | 1 | 2014 |
| Определение адгезионной прочности тонких оксидных покрытий на диэлектрических материалах методом атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 295-302, 2014 | 1 | 2014 |
| Визначення фізико-механічних характеристик поверхонь виробів наноелектроніки методом склерометрії СО Білокінь Вісник Національного технічного університету України Київський політехнічний …, 2013 | 1 | 2013 |
| ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ КРЕМНИЕВЫМ ЗОНДОМ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА МА Бондаренко, СА Билоконь, ЮЮ Бондаренко, ВС Антонюк, ... Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии, 286-290, 2018 | | 2018 |
| Исследование электрических свойств и восстановление поврежденных участков элементов памяти СА Билоконь Упрочняющие технологии и покрытия, 44-47, 2016 | | 2016 |
Юлія БондаренкоЧеркаський державний технологічний університетПідтверджена електронна адреса в chdtu.edu.ua
