Jennifer M. McKinley

Процитировано

	Все	Начиная с 2019 г.
Статистика цитирования	412	50
h-индекс	10	3
i10-индекс	10	2

1992199319941995199619971998199920002001200220032004200520062007200820092010201120122013201420152016201720182019202020212022202320246 6 5 1 1 12 8 17 20 23 23 25 21 20 14 16 20 16 13 8 15 9 13 9 16 18 13 11 5 12 7 2

Соавторы

Conor RaffertyAbcam, PLCПодтвержден адрес электронной почты в домене abcam.com
Kathleen Ann Cerqua RichardsonUniversity of Central FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене creol.ucf.edu
Lee ChowUniversity of Central FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене ucf.edu
Ravindra NuggehalliProfessor, Department of Physics, New Jersey Institute of TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене njit.edu
Catherine VartuliApple, Texas Instruments, Lucent Technologies, University of FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене apple.com
Dan ZhouUniversity of Central FloridaПодтвержден адрес электронной почты в домене ucf.edu
Vishal R MehtaFirst SolarПодтвержден адрес электронной почты в домене njit.edu
George K CellerProfessor of Materials Science, Rutgers UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене rci.rutgers.edu
Lourdes PelazUniversity of ValladolidПодтвержден адрес электронной почты в домене ele.uva.es
Steven J. HilleniusAT&T Bell Laboratories, Semiconductor Research CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене ieee.org
Sandra AndersonFaculty of Medicine and Health at Uni of SydneyПодтвержден адрес электронной почты в домене sydney.edu.au
Lucille A. GiannuzziPresident, L.A. Giannuzzi & Associates LLC, EXpressLO LLC, TESCAN USAПодтвержден адрес электронной почты в домене lagiannuzzi.com
David A. WollmanDeputy Division Chief, Smart Connected Systems Division, Communications Technology Laboratory, NISTПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Michael AntonellSr. Director of Engineering, QorvoПодтвержден адрес электронной почты в домене qorvo.com
Jonathan GilliganProfessor of Earth and Environmental Sciences, Vanderbilt UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене vanderbilt.edu
Giorgio MargaritondoProfessor Emeritus EPFLПодтвержден адрес электронной почты в домене epfl.ch
James Kyung-Jin LeeChair and Associate Professor, University of California, IrvineПодтвержден адрес электронной почты в домене uci.edu
Junbo WuSunPower Corp., Stanford UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене sunpowercorp.com
Elizabeth C. DickeyCarnegie Mellon UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене cmu.edu
Joseph Lee RodgersEmeritus Professor, University of Oklahoma and Vanderbilt UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене ou.edu

Jennifer M. McKinley

University of Central Florida

Подтвержден адрес электронной почты в домене ucf.edu

glass/ceramic optical materials chemistry semiconductors ion/electron beam characterization technology transfer


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Comparison of nonlinear optical properties of sulfide glasses in bulk and thin film form KA Cerqua-Richardson, JM McKinley, B Lawrence, S Joshi, A Villeneuve Optical Materials 10 (2), 155-159, 1998	121	1998
Diffusion of 18 elements implanted into thermally grown HG Francois-Saint-Cyr, FA Stevie, JM McKinley, K Elshot, L Chow, ... Journal of applied physics 94 (12), 7433-7439, 2003	50	2003
Dopant dose loss at the interface HH Vuong, CS Rafferty, SA Eshraghi, J Ning, JR McMacken, S Chaudhry, ... Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer …, 2000	49	2000
Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS VII FA Stevie, DS Simons, JM McKinley, J McMacken, R Santiesteban, ... Lareau et al., eds., Chichester 983, 1998	32	1998
Boron pileup and clustering in silicon-on-insulator films HH Vuong, HJ Gossmann, L Pelaz, GK Celler, DC Jacobson, D Barr, ... Applied physics letters 75 (8), 1083-1085, 1999	23	1999
Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XI, edited by G. Gillen, R. Lareau, J. Bennett, and F. Stevie FA Stevie, DS Simons, JM McKinley, J McMacken, R Santiesteban, ... Wiley, Chichester, 1998	22	1998
Analysis of alkali elements in insulators using a CAMECA IMS-6f JM McKinley, FA Stevie, CN Granger, D Renard Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 18 (1 …, 2000	19	2000
Nitrogen incorporation and trace element analysis of nanocrystalline diamond thin films by secondary ion mass spectrometry D Zhou, FA Stevie, L Chow, J McKinley, H Gnaser, VH Desai Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 17, 1135, 1999	16	1999
Surface quantification by ion implantation through a removable layer FA Stevie, RF Roberts, JM McKinley, MA Decker, CN Granger, ... Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer …, 2000	13	2000
High precision measurements of arsenic and phosphorous implantation dose in silicon by secondary ion mass spectrometry PH Chi, DS Simons, JM McKinley, FA Stevie, CN Granger Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 20 (3 …, 2002	11	2002
Transient-enhanced diffusion in shallow-junction formation AT Fiory, SG Chawda, S Madishetty, VR Mehta, NM Ravindra, SP McCoy, ... Journal of electronic materials 31, 999-1003, 2002	8	2002
Depth profiling of ultra-shallow implants using a Cameca IMS-6f JM McKinley, FA Stevie, T Neil, JJ Lee, L Wu, D Sieloff, C Granger Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer …, 2000	8	2000
Rapid thermal activation and diffusion of boron and phosphorus implants AT Fiory, SG Chawda, S Madishetty, VR Mehta, NM Ravindra, SP McCoy, ... 9th International Conference on Advanced Thermal Processing of …, 2001	7	2001
Boron and phosphorous dopant diffusion in crystalline Si by rapid thermal activation AT Fiory, SG Chawda, S Madishetty, NM Ravindra, A Agarwal, ... Proceedings of the 11th Workshop on Crystalline Silicon Solar Cell Materials …, 2001	5	2001
Chalcogenide glass thin-film optics for infrared applications J Nath, D Panjwani, RE Peale, JD Musgraves, P Wachtel, JM McKinley Sensors and Systems for Space Applications VII 9085, 908507, 2014	4	2014
FIB preparation of Mesa structures for SIMS analysis JM McKinley, BB Rossie, MA Decker, FA Stevie Microscopy and Microanalysis 8 (S02), 542-543, 2002	3	2002
In-fab techniques for baselining implant dose, contamination.(Metrology). RS Santiesteban, JM McKinley, FA Stevie, P Flatch III, O Rodriguez Solid State Technology 45 (8), 63-67, 2002	3	2002
Calibration Method for Elemental Quantification CB Vartuli, FA Stevie, LA Giannuzzi, TL Shofner, BM Purcell, RB Irwin, ... Microscopy and Microanalysis 6 (S2), 536-537, 2000	3	2000
Energy Dispersive Spectrometry Calibration of Fe and Co CB Vartuli, FA Stevie, BM Purcell, A Scwhitter, B Rossie, S Brown, ... Microscopy and Microanalysis 7 (S2), 200-201, 2001	2	2001
Dose calibration of ion implanters for semiconductor production FA Stevie, DS Simons, JM McKinley, J McMacken, R Santiesteban, ... F A. Stevie, David S. Simons, J M. McKinley, J McMacken, R Santiesteban, P …, 1998	2	1998

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы