Brett B. Lewis

Процитировано

	Все	Начиная с 2016 г.
Статистика цитирования	638	594
h-индекс	15	15
i10-индекс	16	16

160

120

2014201520162017201820192020202115 26 38 127 126 113 157 30

Соавторы

Philip D. RackUniversity of Tennessee and Oak Ridge National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене utk.edu
Jason FowlkesCenter for Nanophase Materials SciencesПодтвержден адрес электронной почты в домене ornl.gov
Harald PlankInstitute of Electron Microscopy and Nanoanalysis, Graz University of Technology, 8010 GrazПодтвержден адрес электронной почты в домене felmi-zfe.at
Robert WinklerChristian Doppler Laboratory for Direct-Write Fabrication of Nanoprobes, FELMI-ZFEПодтвержден адрес электронной почты в домене felmi-zfe.at
JOO HYON NOHПодтвержден адрес электронной почты в домене utk.edu
Kyle MahadyUniversity of TennesseeПодтвержден адрес электронной почты в домене utk.edu
Shida TanIntel CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене intel.com
Eva MutungaBredesen Center graduate student, University of Tennessee, KnoxvilleПодтвержден адрес электронной почты в домене vols.utk.edu
Vighter IberiProcter & Gamble, Oak Ridge National Laboratory (ORNL)Подтвержден адрес электронной почты в домене vols.utk.edu
Nick RobertsAssociate Professor, Utah State UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене usu.edu
Rajendra Timilsina, PhDCortevaПодтвержден адрес электронной почты в домене corteva.com
Raymond R. UnocicCenter for Nanophase Materials Sciences Oak Ridge National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене ornl.gov
George PharrProfessor of Materials Science, Texas A&M UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене tamu.edu
Thomas M. MooreWaviks, Inc.Подтвержден адрес электронной почты в домене waviks.com
Pushpa Raj Pudasaini, PhDThe University of Tennessee and Oak Ridge National LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене utk.edu
Bernadeta SrijantoCenter for Nanophase Materials Sciences, ORNLПодтвержден адрес электронной почты в домене ornl.gov
Karlosz Manwel GonzalezProfessor of ScienceПодтвержден адрес электронной почты в домене vols.utk.edu
Ted LiangIntel CorporationПодтвержден адрес электронной почты в домене intel.com
John A NotteChief Scientist, Carl ZeissПодтвержден адрес электронной почты в домене zeiss.com
Michael G. Stanford

Brett B. Lewis

Carl Zeiss SMT, LLC

Подтвержден адрес электронной почты в домене zeiss.com

Materials Science and Engineering Nanotechnology Lithography Beam Induced Processing Ion Beams


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Simulation-Guided 3D Nanomanufacturing via Focused Electron Beam Induced Deposition JD Fowlkes, R Winkler, BB Lewis, MG Stanford, H Plank, PD Rack ACS nano 10 (6), 6163-6172, 2016	110	2016
Direct-write 3D nanoprinting of plasmonic structures R Winkler, FP Schmidt, U Haselmann, JD Fowlkes, BB Lewis, ... ACS applied materials & interfaces 9 (9), 8233-8240, 2017	94	2017
Electron-beam-assisted oxygen purification at low temperatures for electron-beam-induced pt deposits: towards pure and high-fidelity nanostructures H Plank, JH Noh, JD Fowlkes, K Lester, BB Lewis, PD Rack ACS applied materials & interfaces 6 (2), 1018-1024, 2014	68	2014
Purification of nanoscale electron-beam-induced platinum deposits via a pulsed laser-induced oxidation reaction MG Stanford, BB Lewis, JH Noh, JD Fowlkes, NA Roberts, H Plank, ... ACS applied materials & interfaces 6 (23), 21256-21263, 2014	46	2014
Advanced nanoscale patterning and material synthesis with gas field helium and neon ion beams MG Stanford, BB Lewis, K Mahady, JD Fowlkes, PD Rack Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and …, 2017	45	2017
High-fidelity 3D-nanoprinting via focused electron beams: computer-aided design (3BID) JD Fowlkes, R Winkler, BB Lewis, A Fernandez-Pacheco, L Skoric, ... ACS Applied Nano Materials 1 (3), 1028-1041, 2018	38	2018
Nanoscale electron beam-induced deposition and purification of ruthenium for extreme ultraviolet lithography mask repair JH Noh, MG Stanford, BB Lewis, JD Fowlkes, H Plank, PD Rack Applied Physics A 117 (4), 1705-1713, 2014	32	2014
High-fidelity 3D-nanoprinting via focused electron beams: Growth fundamentals R Winkler, BB Lewis, JD Fowlkes, PD Rack, H Plank ACS Applied Nano Materials 1 (3), 1014-1027, 2018	31	2018
In situ mitigation of subsurface and peripheral focused ion beam damage via simultaneous pulsed laser heating MG Stanford, BB Lewis, V Iberi, JD Fowlkes, S Tan, R Livengood, ... Small 12 (13), 1779-1787, 2016	29	2016
Electron-stimulated purification of platinum nanostructures grown via focused electron beam induced deposition BB Lewis, MG Stanford, JD Fowlkes, K Lester, H Plank, PD Rack Beilstein journal of nanotechnology 6 (1), 907-918, 2015	24	2015
Inert gas enhanced laser-assisted purification of platinum electron-beam-induced deposits MG Stanford, BB Lewis, JH Noh, JD Fowlkes, PD Rack ACS applied materials & interfaces 7 (35), 19579-19588, 2015	23	2015
Laser-Assisted Focused He⁺ Ion Beam Induced Etching with and without XeF₂ Gas Assist MG Stanford, K Mahady, BB Lewis, JD Fowlkes, S Tan, R Livengood, ... ACS applied materials & interfaces 8 (42), 29155-29162, 2016	21	2016
3D Nanoprinting via laser-assisted electron beam induced deposition: growth kinetics, enhanced purity, and electrical resistivity BB Lewis, R Winkler, X Sang, PR Pudasaini, MG Stanford, H Plank, ... Beilstein Journal of Nanotechnology 8, 801-812, 2017	18	2017
Growth and nanomechanical characterization of nanoscale 3D architectures grown via focused electron beam induced deposition BB Lewis, BA Mound, B Srijanto, JD Fowlkes, GM Pharr, PD Rack Nanoscale 9 (42), 16349-16356, 2017	17	2017
Electron nanoprobe induced oxidation: a simulation of direct-write purification JD Fowlkes, B Geier, BB Lewis, PD Rack, MG Stanford, R Winkler, ... Physical Chemistry Chemical Physics 17 (28), 18294-18304, 2015	17	2015
Evaluation of mask repair strategies via focused electron, helium, and neon beam induced processing for EUV applications CM Gonzalez, W Slingenbergh, R Timilsina, JH Noh, MG Stanford, ... Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography V 9048, 90480M, 2014	13	2014
Pulsed Laser-Assisted Focused Electron-Beam-Induced Etching of Titanium with XeF₂: Enhanced Reaction Rate and Precursor Transport JH Noh, JD Fowlkes, R Timilsina, MG Stanford, BB Lewis, PD Rack ACS applied materials & interfaces 7 (7), 4179-4184, 2015	5	2015
ACS Appl. Mater R Winkler, FP Schmidt, U Haselmann, JD Fowlkes, BB Lewis, ... Interfaces 9, 8233, 2017	3	2017
NanoFab with SIMS-Recent Results from the BAM-L200 Analytical Standard and Semiconductor Samples B Lewis, F Khanom, J Notte Microscopy and Microanalysis 24 (S1), 850-851, 2018	2	2018
NanoFab SIMS: High Spatial Resolution Imaging and Analysis Using Inert-Gas Ion Beams S Sijbrandij, A Lombardi, A Sireuil, F Khanom, B Lewis, C Guillermier, ... Microscopy Today 27 (3), 22-27, 2019	1	2019

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Загрузка файла PDF

Подписка на новые статьи этого автора

Процитировано

Соавторы