| Combined multiparametric X-ray diffraction diagnostics of microdefects in silicon crystals after irradiation by high-energy electrons EN Kislovskii, VB Molodkin, SI Olikhovskii, EG Len, BV Sheludchenko, ... Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques …, 2013 | 11* | 2013 |
| X‐ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high‐energy electron irradiation VB Molodkin, SI Olikhovskii, EG Len, BV Sheludchenko, SV Lizunova, ... physica status solidi (a) 208 (11), 2552-2557, 2011 | 7 | 2011 |
| Evolution of the microdefect structure in silicon on isothermal annealing as determined by X‐ray diffractometry YM Kyslovskyy, TP Vladimirova, SI Olikhovskii, VB Molodkin, ... physica status solidi (a) 204 (8), 2591-2597, 2007 | 6 | 2007 |
| Dynamical X‐ray diffraction theory: Characterization of defects and strains in as‐grown and ion‐implanted garnet structures SI Olikhovskii, VB Molodkin, OS Skakunova, EG Len, YM Kyslovskyy, ... physica status solidi (b) 254 (7), 1600689, 2017 | 4 | 2017 |
| Dynamical theory of triple-crystal X-ray diffractometry and characterization of microdefects and strains in imperfect single crystals VB Molodkin, SI Olikhovskii, EG Len, YM Kyslovskyy, OV Reshetnyk, ... Металлофизика и новейшие технологии, 2016 | 4 | 2016 |
| Diffraction characterization of microdefect structure of silicon crystals after isochronal annealing VB Molodkin, VP Klad'ko, SJ Olikhovs' kii, EM Kislovskiy, TP Vladimirova, ... METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 31 (9), 1205-1222, 2009 | 3 | 2009 |
| Crystal supersaturated solid solution. I. The equations of evolution and laws of conservation MM Belova, MM Moskalwov, OE Rudych, SJ Olikhovs' ky, EV Kochelab METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 29 (4), 427-450, 2007 | 3 | 2007 |
| Crystal supersaturated solid solution. I. The equations of evolution and laws of conservation MM Belova, MM Moskalwov, OE Rudych, SJ Olikhovs' ky, EV Kochelab METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 29 (4), 427-450, 2007 | 3 | 2007 |
| Modelling of evolution of system of microdefects in the crystal supersaturated solid solution. II. The dimensional analysis of the equations of evolution and diffusion SJ Olikhovskii, MM Belova, MN Moskal'kov, YA Belov, AE Rudich, ... Металлофизика и новейшие технологии 29 (5), 649-662, 2007 | 2 | 2007 |
| Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент ВВ Лизунов, ЕВ Кочелаб, ЕС Скакунова, ЕГ Лень, ВБ Молодкин, ... Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015 | 1 | 2015 |
| X-Ray Diffractometry of Transformations in Microdefect Structure of Silicon Crystals after High-Energy Electron Irradiation IM Fodchuk, TP Vladimirova, VV Dovganyuk, OV Reshetnyk, VP Klad'ko, ... METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 32 (9), 1213-1229, 2010 | 1 | 2010 |
| До 70-річчя академіка НАН України ОМ Івасишина ВА Татаренко, ТМ Радченко, ВМ Надутов, ЄГ Лень, ЄВ Кочелаб Металлофизика и новейшие технологии, 2016 | | 2016 |
| The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment VV Lizunov, EV Kochelab, OS Skakunova, EG Len, VB Molodkin, ... Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології 13 (2), 349-370, 2015 | | 2015 |
| Дисперсійна (фазова) природа структурної чутливости та інформативности трикристальної дифрактометрії дефектів і деформацій в йонно-імплантованих плівках ОС Скакунова, СЙ Оліховський, ВБ Молодкін, ЄГ Лень, ... Металлофизика и новейшие технологии, 409-430, 2015 | | 2015 |
| Нові фізичні уявлення щодо природи прояву недосконалостей структури матеріялів у картині багатократного розсіяння випромінення та перспективи їх використання ВБ Молодкін, ВЮ Сторіжко, ВВ Лізунов, СВ Лізунова, МГ Толмачов, ... Успехи физики металлов, 159-173, 2015 | | 2015 |
| Моделювання та діягностика пошкоджень і деформацій у кристалі Gd3Ga5O12 після імплантації йонів F ВО Коцюбинський, ВМ Пилипів, БК Остафійчук, ІП Яремій, ОЗ Гарпуль, ... Успехи физики металлов, 121-143, 2014 | | 2014 |
| Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field TP Vladimirova, YM Kyslovs’kyy, VB Molodkin, SI Olikhovskii, OV Koplak, ... Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2011 | | 2011 |
| Interactions of radiation and particles: X-Ray diffractometry of transformations in microdefect structure of silicon crystals after high-energy electron irradiation IM Fodchuk, TP Vladimirova, VV Dovganyuk, OV Reshetnyk, VP Klad'Ko, ... Металлофизика и новейшие технологии 32 (9), 1213-1229, 2010 | | 2010 |
| The Nature of Sensitivity of High-Resolution Double-Crystal Diffractometry to Characteristics of Defects of Several Types in Crystals and Their Evolution After Thermal Annealing SJ Olikhovskii, EM Kislovskii, TP Vladi-Mirova, VB Molodkin, ... METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 30 (6), 721-747, 2008 | | 2008 |
| Modelling of evolution of system of microdefects in the crystalline supersaturated solid solution. III. Numerical calculations MM Belova, MN Moskalwov, YA Belov, AE Rudich, SJ Olikhovskii, ... METALLOFIZIKA I NOVEISHIE TEKHNOLOGII 29 (6), 727-742, 2007 | | 2007 |
S. I. OlikhovskiiLeading researcher, Professor, Dr. Sci. Phys.Math, G. V. Kurdyumov Institute for Metal PhysicsПідтверджена електронна адреса в imp.kiev.ua
