Andrian Kuchuk, A. Kuchuk, A.V. Kuchuk, Andrian V Kuchuk, Кучук А.В. - Бібліографічні посилання Google Академія

Посилання

	Усі	З 2014
Бібліографічні посилання	817	539
h-індекс	15	12
i10-індекс	31	19

120

2005200620072008200920102011201220132014201520162017201820192 18 10 19 21 39 46 47 59 57 64 103 92 120 100

Співавтори

Vasyl P. Kladko, V.P. Klad'ko, V. Kladk...Corresponding Member of NAS of Ukraine, Professor, Institute of Semiconductors Physics NAS ofПідтверджена електронна адреса в isp.kiev.ua
Belyaev A.E.Institute of semiconductor physicsПідтверджена електронна адреса в isp.kiev.ua
Gregory SalamoProfessor of Physics, University of ArkansasПідтверджена електронна адреса в uark.edu
Morgan E. WareUniversity of ArkansasПідтверджена електронна адреса в uark.edu
P M Lytvyn, P M Litvin, П М ЛитвинSenior Researcher, V.Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics NAS UkraineПідтверджена електронна адреса в isp.kiev.ua
Renata RatajczakNational Centre for Nuclear Resarch (NCBJ)Підтверджена електронна адреса в ncbj.gov.pl
Y. Mazur, Yuriy Mazur, Yu. I. Mazur, Yu...Institute for Nanoscience and Engineering, University of ArkansasПідтверджена електронна адреса в uark.edu
Volodymyr SheremetBilkent UniversityПідтверджена електронна адреса в bilkent.edu.tr
O.S. Lytvyn, Litvin, О.С. ЛитвинКиївський університет імені Бориса ГрінченкаПідтверджена електронна адреса в kubg.edu.ua
Олександр Коломис; O F Kolomys; A...Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН УкраїниПідтверджена електронна адреса в isp.kiev.ua
Shui-Qing (Fisher) YuUniversity of ArkansasПідтверджена електронна адреса в uark.edu
Mourad BenamaraInstitute for Nanoscience & Engineering, University of ArkansasПідтверджена електронна адреса в uark.edu
Roman MinikayevInstitute of Physics PAS, Warsaw Підтверджена електронна адреса в ifpan.edu.pl
Joe Margetis, PhDASM, AmericaПідтверджена електронна адреса в asu.edu
Larysa KhomenkovaInstitute of semiconductor physics of NASUПідтверджена електронна адреса в isp.kiev.ua
Wei DuAssistant Professor, Department of Electrical Engineering, Wilkes UniversityПідтверджена електронна адреса в wilkes.edu
Eric DeCuir JrU.S. Army Research LaboratoryПідтверджена електронна адреса в mail.mil
Richard A. SorefResearch Professor of Engineering, The University of Massachusetts at BostonПідтверджена електронна адреса в rcn.com
G. SunProfessor of Electrical Engineering, UMass BostonПідтверджена електронна адреса в umb.edu
Seyed Amir GhetmiriAssistant Professor at University of Arkansas at Pine BluffПідтверджена електронна адреса в uapb.edu

Andrian Kuchuk, A. Kuchuk, A.V. Kuchuk, Andrian V Kuchuk, Кучук А.В.

Institute for Nanoscience & Engineering, University of Arkansas, Fayetteville, USA

Підтверджена електронна адреса в uark.edu

Materials science X-ray diffraction Nanostructures Nanotechnology


Назва	Посилання	Рік
Low-temperature method for thermochromic high ordered VO2 phase formation V Melnik, I Khatsevych, V Kladko, A Kuchuk, V Nikirin, B Romanyuk Materials Letters 68, 215-217, 2012	56	2012
Substrate effects on the strain relaxation in GaN/AlN short-period superlattices V Kladko, A Kuchuk, P Lytvyn, O Yefanov, N Safriuk, A Belyaev, YI Mazur, ... Nanoscale research letters 7 (1), 289, 2012	35	2012
Fabrication and characterization of nickel silicide ohmic contacts to n-type 4H silicon carbide A Kuchuk, V Kladko, M Guziewicz, A Piotrowska, R Minikayev, A Stonert, ... Journal of Physics: Conference Series 100 (4), 042003, 2008	35	2008
Long-term stability of Ni–silicide ohmic contact to n-type 4H–SiC AV Kuchuk, M Guziewicz, R Ratajczak, M Wzorek, VP Kladko, ... Microelectronic Engineering 85 (10), 2142-2145, 2008	32	2008
Study of a SiGeSn/GeSn/SiGeSn structure toward direct bandgap type-I quantum well for all group-IV optoelectronics SA Ghetmiri, Y Zhou, J Margetis, S Al-Kabi, W Dou, A Mosleh, W Du, ... Optics letters 42 (3), 387-390, 2017	31	2017
Mechanism of dislocation-governed charge transport in schottky diodes based on gallium nitride AE Belyaev, NS Boltovets, VN Ivanov, VP Klad’ko, RV Konakova, ... Semiconductors 42 (6), 689-693, 2008	31*	2008
Effect of p-n junction overheating on degradation of silicon high-power pulsed IMPATT diodes AE Belyaev, VV Basanets, NS Boltovets, AV Zorenko, LM Kapitanchuk, ... Semiconductors 45 (2), 253-259, 2011	25*	2011
Thermal degradation of Au/Ni2Si/n-SiC ohmic contacts under different conditions AV Kuchuk, M Guziewicz, R Ratajczak, M Wzorek, VP Kladko, ... Materials Science and Engineering: B 165 (1-2), 38-41, 2009	22	2009
Mechanism of strain relaxation by twisted nanocolumns revealed in AlGaN/GaN heterostructures VP Kladko, AV Kuchuk, NV Safryuk, VF Machulin, AE Belyaev, ... Applied physics letters 95 (3), 031907, 2009	21	2009
Ni-based ohmic contacts to n-type 4H-SiC: The formation mechanism and thermal stability AV Kuchuk, P Borowicz, M Wzorek, M Borysiewicz, R Ratajczak, ... Advances in Condensed Matter Physics 2016, 2016	20	2016
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si (111) and Al₂O₃ (0001) substrates NV Safriuk, GV Stanchu, AV Kuchuk, VP Kladko, AE Belyaev, ... Semiconductor physics quantum electronics & optoelectronics, 2013	18	2013
On the formation of Ni-based ohmic contacts to n-type 4H-SiC AV Kuchuk, VP Kladko, A Piotrowska, R Ratajczak, R Jakieła Materials Science Forum 615, 573-576, 2009	18	2009
Amorphous Ta–Si–N diffusion barriers on GaAs A Kuchuk, E Kaminska, A Piotrowska, K Golaszewska, E Dynowska, ... Thin Solid Films 459 (1-2), 292-296, 2004	18	2004
Mechanism of strain-influenced quantum well thickness reduction in GaN/AlN short-period superlattices AV Kuchuk, VP Kladko, TL Petrenko, VP Bryksa, AE Belyaev, YI Mazur, ... Nanotechnology 25 (24), 245602, 2014	16	2014
Structural transformation and functional properties of vanadium oxide films after low-temperature annealing Y Goltvyanskyi, I Khatsevych, A Kuchuk, V Kladko, V Melnik, P Lytvyn, ... Thin Solid Films 564, 179-185, 2014	15	2014
Structural and optical characteristics of GeSn quantum wells for silicon-based mid-infrared optoelectronic applications W Dou, SA Ghetmiri, S Al-Kabi, A Mosleh, Y Zhou, B Alharthi, W Du, ... Journal of Electronic Materials 45 (12), 6265-6272, 2016	14	2016
Influence of template type and buffer strain on structural properties of GaN multilayer quantum wells grown by PAMBE, an x-ray study VP Kladko, AV Kuchuk, NV Safryuk, VF Machulin, PM Lytvyn, ... Journal of Physics D: Applied Physics 44 (2), 025403, 2010	14	2010
High-resolution X-ray diffraction analysis of strain distribution in GaN nanowires on Si (111) substrate H Stanchu, V Kladko, AV Kuchuk, N Safriuk, A Belyaev, A Wierzbicka, ... Nanoscale research letters 10 (1), 51, 2015	13	2015
Nanostructured Y‐doped ZrO₂ powder: peculiarities of light emission under electron beam excitation N Korsunska, V Papusha, O Kolomys, V Strelchuk, A Kuchuk, V Kladko, ... physica status solidi (c) 11 (9‐10), 1417-1422, 2014	13	2014
TEM characterisation of silicide phase formation in Ni-based ohmic contacts to 4H n-SiC M Wzorek, A Czerwinski, A Kuchuk, J Ratajczak, A Piotrowska, J Katcki Materials transactions 52 (3), 315-318, 2011	13	2011

У даний момент система не може виконати операцію. Спробуйте пізніше.

Статті 1–20

Кількість бібліографічних посилань на рік

Повторювані посилання

Об’єднані посилання

Додати співавторівСпівавтори

Завантажити файл PDF

Підписатися на оновлення цього автора

Посилання

Співавтори