Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2019 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 8127 | 4674 |
h-индекс | 44 | 35 |
i10-индекс | 149 | 102 |
Общий доступ
Просмотреть все12 статей
2 статьи
доступно
недоступно
На основе финансирования
Соавторы
- Juergen BruggerProfessor of Microengineering (EPFL)Подтвержден адрес электронной почты в домене epfl.ch
- Christian BergaudCNRS Researcher, LAAS, University of Toulouse, FranceПодтвержден адрес электронной почты в домене laas.fr
- Ikjoo ByunSamsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
- Sebastian VolzCNRS - University of TokyoПодтвержден адрес электронной почты в домене iis.u-tokyo.ac.jp
- Jose Ordonez-MirandaCNRS Full Researcher, University of TokyoПодтвержден адрес электронной почты в домене iis.u-tokyo.ac.jp
- Jacques FattaccioliEcole Normale Supérieure, Sorbonne Université, CNRSПодтвержден адрес электронной почты в домене ens.psl.eu
- Jurriaan Huskensprofessor of supramolecular chemistry, University of TwenteПодтвержден адрес электронной почты в домене utwente.nl
- Arum HanProfessor of Texas A&M UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене ece.tamu.edu
- Benjamin SamsonInstitut Langevin, EspciПодтвержден адрес электронной почты в домене espci.fr
- Lionel BuchaillotIEMN UMR8520Подтвержден адрес электронной почты в домене univ-lille.fr
Подписаться
Beomjoon Kim
The University of Tokyo, Institute of Industrial Science
Подтвержден адрес электронной почты в домене iis.u-tokyo.ac.jp - Главная страница