СРАВНЕНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ ГЛОБАЛЬНЫХ МЕТОДОВ БИНАРИЗАЦИИ РАСТРОВЫХ ЦВЕТНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ АН Самойлов, Петренко Василий Радиславовоич Вісник КрНУ імені Михайла Остроградського, 2012 | 7 | 2012 |
Методы получения контуров на цифровых растровых изображениях с нечетким отображением дислокаций в пластинах GaAs АМ Самойлов, ИВ Шевченко Комп'ютерно-інтегровані технології: освіта, наука, виробництво, 63-69, 2013 | 6 | 2013 |
Development of methods for separation of binarized fragments of etching pits of semiconductor wafer A Samoilov, I Shevchenko Technology Audit And Production Reserves 3 (1), 29, 2016 | 5 | 2016 |
Исследование медианной фильтрации бинаризованных контуров дислокаций пластины GaAs на растровых цифровых изображениях АН Самойлов ІТ-Перспектива: материалы І Всеукр. науч.-практ. конф.(Кременчуг, 4–5 апреля …, 2014 | 5 | 2014 |
Метод обнаружения линий контуров в яркостных перепадах предполагаемых граней бинаризованного изображения следов дислокаций на пластинах GaAs АН Самойлов, ИВ Шевченко Автоматизированные системы управления и приборы автоматики, 22-27, 2013 | 5 | 2013 |
Побудова гетерогенної мережі підприємства з підтримкою QoS / QoE якості доставки інформації АМ Самойлов, ІС Конох, ІГ Оксанич, ВЮ Бельска Збірник наукових праць Національного університету кораблебудування імені …, 2022 | 2 | 2022 |
Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника АН Самойлов, ИВ Шевченко Технологический аудит и резервы производства 3 (1 (29)), 60-68, 2016 | 2 | 2016 |
Methods for recovering the dislocations contour line of gallium arsenide wafer of digital image AN Samoilov, I Shevchenko Eastern-European Journal of Eenterprise Technologies 3 (5), 75, 2015 | 2 | 2015 |
Аналіз успішності виконання IT-проєктів АМ Самойлов XXII Міжнародна науково-практична конференція «Technologies for the …, 2023 | 1 | 2023 |
Аналіз бізнес-процесів установи з екологічного контролю стану підприємства А Самойлов, М Кугій XIX Міжнародна науково-практична конференція «Innovative approaches to …, 2023 | 1 | 2023 |
Detection of Contour Lines of Etching Pits on Surface Waffer Semiconductor A Samoilov, N Rylova, V Artemenko 2022 IEEE 4th International Conference on Modern Electrical and Energy …, 2023 | 1 | 2023 |
Business processes monitoring based on fuzzy cognitive maps I Shevchenko, D Vasyliev, S Prytchyn, A Samoilov Radioelectronic and Computer Systems, 110-120, 2022 | 1 | 2022 |
Подходы к идентификации фрагментов контура дислокации на пластине монокристалла полупроводника АН Самойлов, ИВ Шевченко | 1 | 2019 |
Grouping method of image fragments of adjacent dislocation etch pits of the semiconductor wafer A Samoilov, I Shevchenko EUREKA: Physics and Engineering, 47–54, 2016 | 1 | 2016 |
Методы восстановления линии контура дислокации цифрового изображения пластины арсенида галлия АН Самойлов, ИВ Шевченко Восточно-Европейский журнал передовых технологий 3 (5 (75)), 8-16, 2015 | 1 | 2015 |
Analysis of security threats at the current stage of digital transformation A Samoilov XVI International scientific and practical conference «New ways of improving …, 2024 | | 2024 |
Аналіз нових рекомендацій PMBOK 7 щодо управління виконанням IT-проєкту А Самойлов XII Міжнародна науково-практична конференція «Prospective directions of …, 2024 | | 2024 |
Аналіз можливостей кодека ААС для трансляції аудіо каналами зв’язку АМ Самойлов, Б Нугербеков Proceedings of the XVIII International Scientific and Practical Conference …, 2024 | | 2024 |
Аналіз основних можливостей ААС формату стиснення аудіо та мультимедійних даних М Ахмедов, АМ Самойлов Proceedings of the XVIII International Scientific and Practical Conference …, 2024 | | 2024 |
Особливості програмної реалізації архітектури застосунка Spending APP П Грінченко, АМ Самойлов Proceedings of the XVII International Scientific and Practical Conference …, 2024 | | 2024 |