СРАВНЕНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ ГЛОБАЛЬНЫХ МЕТОДОВ БИНАРИЗАЦИИ РАСТРОВЫХ ЦВЕТНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ АН Самойлов, ПВ Радиславовоич Вісник КрНУ імені Михайла Остроградського, 2012 | 7 | 2012 |
Методы получения контуров на цифровых растровых изображениях с нечетким отображением дислокаций в пластинах GaAs АМ Самойлов, ИВ Шевченко Комп'ютерно-інтегровані технології: освіта, наука, виробництво, 63-69, 2013 | 6 | 2013 |
Структурные напряжения в алюминиево-кремниевых сплавах при термоциклической обработке ВН Монин, БН Подзоров, ГС Казакевич, М Смагоринский, ... Цветные металлы, 79-80, 1981 | 6 | 1981 |
Development of methods for separation of binarized fragments of etching pits of semiconductor wafer A Samoilov, I Shevchenko Technology Audit And Production Reserves 3 (1), 29, 2016 | 5 | 2016 |
Исследование медианной фильтрации бинаризованных контуров дислокаций пластины GaAs на растровых цифровых изображениях АН Самойлов ІТ-Перспектива: материалы І Всеукр. науч.-практ. конф.(Кременчуг, 4–5 апреля …, 2014 | 5 | 2014 |
Метод обнаружения линий контуров в яркостных перепадах предполагаемых граней бинаризованного изображения следов дислокаций на пластинах GaAs АН Самойлов, ИВ Шевченко Автоматизированные системы управления и приборы автоматики, 22-27, 2013 | 5 | 2013 |
Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника АН Самойлов, ИВ Шевченко Технологический аудит и резервы производства 3 (1 (29)), 60-68, 2016 | 2 | 2016 |
Methods for recovering the dislocations contour line of gallium arsenide wafer of digital image AN Samoilov, I Shevchenko Eastern-European Journal of Eenterprise Technologies 3 (5), 75, 2015 | 2 | 2015 |
Business processes monitoring based on fuzzy cognitive maps I Shevchenko, D Vasyliev, S Prytchyn, A Samoilov Radioelectronic and Computer Systems, 110-120, 2022 | 1 | 2022 |
Подходы к идентификации фрагментов контура дислокации на пластине монокристалла полупроводника АН Самойлов, ИВ Шевченко | 1 | 2019 |
Методы восстановления линии контура дислокации цифрового изображения пластины арсенида галлия АН Самойлов, ИВ Шевченко Восточно-Европейский журнал передовых технологий 3 (5 (75)), 8-16, 2015 | 1 | 2015 |
Методы восстановления линии контура дислокации цифрового изображения пластины арсенида галлия АН Самойлов, ИВ Шевченко Восточно-Европейский журнал передовых технологий 3 (5 (75)), 8-16, 2015 | 1 | 2015 |
Increase Quality of GaAs Monocrystals for Solar Energy Devices Due to Control of Dislocations Using Alhorithm of Detection of Contour Lines of Etching Pits on Surface Waffer … A Samoilov, N Rylova, V Artemenko EasyChair, 2022 | | 2022 |
РЕЗУЛЬТАТЫ АНАЛИЗА АДАПТИВНОЙ ОБРАБОТКИ ЯРКОСТНЫХ ПОРОГОВ ФРАГМЕНТОВ ЦИФРОВОГО РАСТРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА С Шевченко Вчені записки Таврійського національного університету імені В. І …, 2018 | | 2018 |
ПРИМЕНЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПЕРИМЕТРА ПЛОЩАДИ И ФОРМЫ ДЛЯ ОПИСАНИЯ ФРАГМЕНТОВ БИНАРИЗОВАННОГО ЦИФРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА АН Самойлов ІТ-Тренди: соціальні медіа, великі дані, штучний інтелект, 24, 2015 | | 2015 |
РЕЗУЛЬТАТЫ АНАЛИЗА АДАПТИВНОЙ ОБРАБОТКИ ЯРКОСТНЫХ ПОРОГОВ ФРАГМЕНТОВ ЦИФРОВОГО РАСТРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА АН Самойлов, ИВ Шевченко ВЧЕНІ ЗАПИСКИ, 5201851, 0 | | |
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДОПОЛНИТЕЛЬНЫХ ПРИЗНАКОВ ДЛЯ ВЫДЕЛЕНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ НА ЦИФРОВОМ ИЗОБРАЖЕНИИ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАСТИНЫ GaAs АН Самойлов | | |