Подписаться
Andrii Samoilov (Андрій Самойлов, Андрей Самойлов)
Andrii Samoilov (Андрій Самойлов, Андрей Самойлов)
Kremenchuk Mykhailo Ostrohradskyi National University (КРЕМЕНЧУЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ)
Подтвержден адрес электронной почты в домене kdu.edu.ua - Главная страница
Название
Процитировано
Процитировано
Год
СРАВНЕНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ ГЛОБАЛЬНЫХ МЕТОДОВ БИНАРИЗАЦИИ РАСТРОВЫХ ЦВЕТНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ
АН Самойлов, ПВ Радиславовоич
Вісник КрНУ імені Михайла Остроградського, 2012
72012
Методы получения контуров на цифровых растровых изображениях с нечетким отображением дислокаций в пластинах GaAs
АМ Самойлов, ИВ Шевченко
Комп'ютерно-інтегровані технології: освіта, наука, виробництво, 63-69, 2013
62013
Структурные напряжения в алюминиево-кремниевых сплавах при термоциклической обработке
ВН Монин, БН Подзоров, ГС Казакевич, М Смагоринский, ...
Цветные металлы, 79-80, 1981
61981
Development of methods for separation of binarized fragments of etching pits of semiconductor wafer
A Samoilov, I Shevchenko
Technology Audit And Production Reserves 3 (1), 29, 2016
52016
Исследование медианной фильтрации бинаризованных контуров дислокаций пластины GaAs на растровых цифровых изображениях
АН Самойлов
ІТ-Перспектива: материалы І Всеукр. науч.-практ. конф.(Кременчуг, 4–5 апреля …, 2014
52014
Метод обнаружения линий контуров в яркостных перепадах предполагаемых граней бинаризованного изображения следов дислокаций на пластинах GaAs
АН Самойлов, ИВ Шевченко
Автоматизированные системы управления и приборы автоматики, 22-27, 2013
52013
Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника
АН Самойлов, ИВ Шевченко
Технологический аудит и резервы производства 3 (1 (29)), 60-68, 2016
22016
Methods for recovering the dislocations contour line of gallium arsenide wafer of digital image
AN Samoilov, I Shevchenko
Eastern-European Journal of Eenterprise Technologies 3 (5), 75, 2015
22015
Business processes monitoring based on fuzzy cognitive maps
I Shevchenko, D Vasyliev, S Prytchyn, A Samoilov
Radioelectronic and Computer Systems, 110-120, 2022
12022
Подходы к идентификации фрагментов контура дислокации на пластине монокристалла полупроводника
АН Самойлов, ИВ Шевченко
12019
Методы восстановления линии контура дислокации цифрового изображения пластины арсенида галлия
АН Самойлов, ИВ Шевченко
Восточно-Европейский журнал передовых технологий 3 (5 (75)), 8-16, 2015
12015
Методы восстановления линии контура дислокации цифрового изображения пластины арсенида галлия
АН Самойлов, ИВ Шевченко
Восточно-Европейский журнал передовых технологий 3 (5 (75)), 8-16, 2015
12015
Increase Quality of GaAs Monocrystals for Solar Energy Devices Due to Control of Dislocations Using Alhorithm of Detection of Contour Lines of Etching Pits on Surface Waffer …
A Samoilov, N Rylova, V Artemenko
EasyChair, 2022
2022
РЕЗУЛЬТАТЫ АНАЛИЗА АДАПТИВНОЙ ОБРАБОТКИ ЯРКОСТНЫХ ПОРОГОВ ФРАГМЕНТОВ ЦИФРОВОГО РАСТРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА
С Шевченко
Вчені записки Таврійського національного університету імені В. І …, 2018
2018
ПРИМЕНЕНИЕ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПЕРИМЕТРА ПЛОЩАДИ И ФОРМЫ ДЛЯ ОПИСАНИЯ ФРАГМЕНТОВ БИНАРИЗОВАННОГО ЦИФРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА
АН Самойлов
ІТ-Тренди: соціальні медіа, великі дані, штучний інтелект, 24, 2015
2015
РЕЗУЛЬТАТЫ АНАЛИЗА АДАПТИВНОЙ ОБРАБОТКИ ЯРКОСТНЫХ ПОРОГОВ ФРАГМЕНТОВ ЦИФРОВОГО РАСТРОВОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПЛАСТИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКА
АН Самойлов, ИВ Шевченко
ВЧЕНІ ЗАПИСКИ, 5201851, 0
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДОПОЛНИТЕЛЬНЫХ ПРИЗНАКОВ ДЛЯ ВЫДЕЛЕНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ НА ЦИФРОВОМ ИЗОБРАЖЕНИИ ПОВЕРХНОСТИ ПЛАСТИНЫ GaAs
АН Самойлов
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–17