Подписаться
Максим Бондаренко
Максим Бондаренко
Черкаський державний технологічний університет
Подтвержден адрес электронной почты в домене chdtu.edu.ua - Главная страница
Название
Процитировано
Процитировано
Год
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
VS Antonyuk, SO Bilokin’, MO Bondarenko, YY Bondarenko, ...
Journal of superhard materials 37, 112-119, 2015
142015
Studies of thin wear-resistant carbon coatings and structures formed by thermal evaporation in a vacuum on piezoceramic materials
VS Antonyuk, MO Bondarenko, YY Bondarenko
Journal of superhard materials 34, 248-255, 2012
102012
Робототехнічні системи в технічній освіті
ВО Андрієнко, МО Бондаренко
Тези доповідей ІV Міжнародної науково-практичної конференції «Інформаційні …, 2018
82018
Біофізика і біомеханіка
ВС Антонюк, МО Бондаренко, ВА Ващенко
Київ: Київський педагогічний інститут імені Ігоря Сікорського, 2012
52012
Формирование упорядоченных наноструктур на пьезоэлектрической керамике системы ЦТС термическим осаждением в вакууме
МА Бондаренко, ВА Ващенко, ЮЮ Бондаренко, ИВ Яценко, МП Рудь, ...
X Юбилейной международной конференции “Эффективность реализации научного …, 2010
52010
Дослідження впливу низькоенергетичного електронного потоку на мікрогеометрію поверхонь п ‘єзокерамічних елементів
МО Бондаренко
Труды Одесского политехнического университета, 149, 2009
52009
Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно-силового мікроскопу діелектричних поверхонь
МО Бондаренко, СО Білокінь, ВС Антонюк, ЮЮ Бондаренко
Журнал нано-та електронної фізики, 02018 (5)-02018 (5), 2014
42014
Повышение точности и срока эксплуатации зондов для атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, ОВ Свиридова, ВС Антонюк, МА Бондаренко, ...
Наноинженерия, 10-13, 2013
42013
Study of forming terms thin diamond similar nanostructures thermal vacuum-depositing
M Bondarenko, G Kanashevich, H Vertsanova, А Kotlyar, N Bojko, ...
Вісник Черкаського державного технологічного університету, 114-116, 2009
42009
Методи та засоби мікроскопії
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ПВ Петльований, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2013
32013
Дослідження тонких алмазоподібних покриттів і структур сформованих термічним випаровуванням у вакуумі на п ‘єзокерамічних матеріалах
ВС Антонюк, МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Сверхтв. мат, 45-55, 2012
32012
Основи теплоперенесення в елементах оптичного приладобудування
ВС Антонюк, ГС Тимчак, ІВ Яценко, МО Бондаренко, ОВ Кириченко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2012
32012
Вимiрювання товщини тонких композицiйних покриттiв в процесi їхнього осадження у вакуумi
МО Бондаренко, НI Божко, ОВ Котляр, ПI Куриленко
Тези доповiдей VIII Мiжнародної науково-технiчної конференцiї …, 2009
32009
Формування та керування стрічковим електронним потоком при мікрообробці елементів пристроїв для адитивного виробництва
РП Гайдаш, ЮІ Коваленко, МП Рудь, МО Бондаренко, ВС Антонюк
Сучасні технології в машинобудуванні, 69-78, 2018
22018
Покриття у приладобудуванні
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ЮІ Коваленко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2016
22016
Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень
МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Сумський державний університет, 2016
22016
і РП Гайдаш, Покриття у приладобудуванні
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ЮІ Коваленко, ...
Київ: НТТУ" КПІ, 2016
22016
та СО Білокінь,“Діагностичний стенд для вимірювання фізичних характеристик поверхні на базі АСМ”, на V міжнар. наук.-практ. конф
МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС-2015 …, 2015
22015
Біофізика в задачах та прикладах
ВС Антонюк, ГС Тимчак, МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2015
22015
Mechanism of Origin and Neutralization of Residual Triboelectricity at Scanning of Dielectric Surfaces by a Silicon Probe of the Atomic-force Microscope.
MM Bondarenko, SA Bilokon, VS Antonyuk, II Bondarenko
Journal of Nano-& Electronic Physics 6 (2), 2014
22014
В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.
Статьи 1–20