Максим Бондаренко
Максим Бондаренко
Черкаський державний технологічний університет
Підтверджена електронна адреса в chdtu.edu.ua - Домашня сторінка
Назва
Посилання
Посилання
Рік
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
VS Antonyuk, MO Bondarenko, YY Bondarenko, YI Kovalenko
Journal of superhard materials 37 (2), 112-119, 2015
112015
Studies of thin wear-resistant carbon coatings and structures formed by thermal evaporation in a vacuum on piezoceramic materials
VS Antonyuk, MO Bondarenko, YY Bondarenko
Journal of superhard materials 34 (4), 248-255, 2012
62012
Формирование упорядоченных наноструктур на пьезоэлектрической керамике системы ЦТС термическим осаждением в вакууме
МА Бондаренко, ВА Ващенко, ЮЮ Бондаренко, ИВ Яценко, МП Рудь, ...
X Юбилейной международной конференции “Эффективность реализации научного …, 2010
52010
Робототехнічні системи в технічній освіті
ВО Андрієнко, МО Бондаренко
Тези доповідей ІV Міжнародної науково-практичної конференції «Інформаційні …, 2018
42018
Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно-силового мікроскопу діелектричних поверхонь
МО Бондаренко, СО Білокінь, ВС Антонюк, ЮЮ Бондаренко
Сумський державний університет, 2014
42014
Повышение точности и срока эксплуатации зондов для атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, ОВ Свиридова, ВС Антонюк, МА Бондаренко, ...
Наноинженерия, 10-13, 2013
42013
Основи теплоперенесення в елементах оптичного приладобудування
ВС Антонюк, ГС Тимчак, ІВ Яценко, МО Бондаренко, ОВ Кириченко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2012
42012
Дослідження впливу низькоенергетичного електронного потоку на мікрогеометрію поверхонь п ‘єзокерамічних елементів
МО Бондаренко
Труды Одесского политехнического университета, 149, 2009
42009
Формування та керування стрічковим електронним потоком при мікрообробці елементів пристроїв для адитивного виробництва
РП Гайдаш, ЮІ Коваленко, МП Рудь, МО Бондаренко, ВС Антонюк
НТУ" ХПІ", 2018
32018
Дослідження тонких алмазоподібних покриттів і структур сформованих термічним випаровуванням у вакуумі на п ‘єзокерамічних матеріалах
ВС Антонюк, МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Сверхтв. мат, 45-55, 2012
32012
Вимiрювання товщини тонких композицiйних покриттiв в процесi їхнього осадження у вакуумi
МО Бондаренко, НI Божко, ОВ Котляр, ПI Куриленко
Тези доповiдей VIII Мiжнародної науково-технiчної конференцiї …, 2009
32009
Study of forming terms thin diamond similar nanostructures thermal vacuum-depositing
M Bondarenko, G Kanashevich, H Vertsanova, А Kotlyar, N Bojko, ...
Вісник Черкаського державного технологічного університету, 114-116, 2009
32009
Покриття у приладобудуванні
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ЮІ Коваленко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2016
22016
і РП Гайдаш, Покриття у приладобудуванні
ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ЮІ Коваленко, ...
Київ: НТТУ" КПІ, 2016
22016
та СО Білокінь,“Діагностичний стенд для вимірювання фізичних характеристик поверхні на базі АСМ”, на V міжнар. наук.-практ. конф
МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС-2015 …, 2015
22015
Біофізика в задачах та прикладах
ВС Антонюк, ГС Тимчак, МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ...
Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2015
22015
Исследование микротвердости тонких пленок методом наноиндентирования с помощью атомно-силовой микроскопии
СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ВС Антонюк
Качество, стандартизация, контроль: теория и практика, 20, 2013
22013
Модифікація нанорельєфу на оптичному склі електронно-променевою мікрообробки
ЮІ Коваленко, МО Бондаренко, ІВ Яценко, МП Рудь, ГВ Канашевич
Вісник Черкаського державного технологічного університету. Серія: Технічні …, 2012
22012
Research of influence of the state of surface of probes for AFM on exactness and quality of the topograms
MA Bondarenko, JJ Bondarenko
XXXI International Scientific Conference “Electronic and Nanotechnology”, 1, 2011
22011
Исследование влияния состояния поверхности кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии на точность и качество получаемых топограмм
МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко
Электроника и связь, 4, 2011
22011
У даний момент система не може виконати операцію. Спробуйте пізніше.
Статті 1–20