| Пьезоэлектрические преобразователи: Справочное пособие ВМ Шарапов, ИГ Минаев, ЮЮ Бондаренко, ТЮ Кисиль, МП Мусиенко, ... Черкассы : ЧГТУ, 2004 | 19 | 2004 |
| Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation VS Antonyuk, SO Bilokin’, MO Bondarenko, YY Bondarenko, ... Journal of superhard materials 37, 112-119, 2015 | 14 | 2015 |
| Studies of thin wear-resistant carbon coatings and structures formed by thermal evaporation in a vacuum on piezoceramic materials VS Antonyuk, MO Bondarenko, YY Bondarenko Journal of superhard materials 34, 248-255, 2012 | 10 | 2012 |
| Piezoelectric transducers VM Sharapov, IG Minaev, YY Bondarenko ChDTU, Cherkassy, 2004 | 10 | 2004 |
| Оптимізація капіталовкладень на основі інтегральної оцінки ефективності інвестицій ВМ Хобта, ЮЮ Бондаренко, ЮЮ Бондаренко 15.08. 2012, 2012 | 7 | 2012 |
| Применение метода атомно-силовой микроскопии в прогнозировании срока эксплуатации пьезоэлектрических преобразователей медицинских приборов МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, АК Бабаев VII Международный семинар “Методол. аспекты сканирующей зондовой микроскопии …, 2006 | 7 | 2006 |
| Исследование характеристик токопроводящих электропроводных пьезокерамических элементов ВМ Шарапов, АМ Гуржий, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко Вісник Черкаського державного технологічного університету, 258 — 260, 2007 | 6 | 2007 |
| Особенности измерения микротвердости диэлектрических поверхностей кремниевым зондом атомно-силового микроскопа ВС Антонюк, СА Билоконь, МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ... Наноинженерия, 13-16, 2014 | 5 | 2014 |
| Исследование поверхностей пьезокерамических элементов, модифицированных электронным потоком методом атомно-силовой микроскопии МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, КГ Викторович 8-й Белорусский семинар “Методологические аспекты сканирующей зондовой …, 2008 | 5 | 2008 |
| About the methods of a linearization of a peak-frequency characteristics of piezoceramic transducers VM Sharapov, YY Bondarenko, MP Musiyenko, TY Kisil Visnyk ChDTU, 51-53, 2005 | 5 | 2005 |
| Розвиток пізнавальної діяльності дітей із затримкою психічного розвитку на уроках математики Ю Бондаренко, Є Куценко Педагогічні науки: теорія, історія, інноваційні технології, 255-263, 2018 | 4 | 2018 |
| Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно-силового мікроскопу діелектричних поверхонь МО Бондаренко, СО Білокінь, ВС Антонюк, ЮЮ Бондаренко ЖУРНАЛ НАНО- ТА ЕЛЕКТРОННОЇ ФІЗИКИ 6 (2), 02018(5pp), 2014 | 4 | 2014 |
| Повышение точности и срока эксплуатации зондов для атомно-силовой микроскопии СА Билоконь, ОВ Свиридова, ВС Антонюк, МА Бондаренко, ... Наноинженерия, 10-13, 2013 | 4 | 2013 |
| Поліноміальні оцінки параметрів для даних з експоненційним степеневим розподілом СВ Заболотній, АВ Чепинога, ЮЮ Бондаренко, МП Рудь Вісник Національного технічного університету України Київський політехнічний …, 2018 | 3* | 2018 |
| Методи та засоби мікроскопії ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ПВ Петльований, ... Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2013 | 3 | 2013 |
| Изучение механизма образования переходной зоны в поверхностном слое пьезокерамических изделий нанотехники МА Бондаренко, ВС Антонюк, ВА Ващенко, ЮЮ Бондаренко, ... Наноинженерия, 25-29, 2011 | 3 | 2011 |
| Покриття у приладобудуванні ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко, ЮІ Коваленко, ... Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2016 | 2 | 2016 |
| Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко Сумський державний університет, 2016 | 2 | 2016 |
| Біофізика в задачах та прикладах ВС Антонюк, ГС Тимчак, МО Бондаренко, ЮЮ Бондаренко, ... Національний технічний університет України" Київський політехнічний інститут", 2015 | 2 | 2015 |
| Минимизация влияния капиллярных сил при исследовании поверхностей изделий наноэлектроники в контактном режиме атомно-силового микроскопа СА Билоконь, МА Бондаренко, ВА Андриенко, ЮЮ Бондаренко, ... Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии, 164-168, 2014 | 2 | 2014 |
